CISのSWIRカメラ

400nm～1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査を可能にします。

広帯域をカバーしているため、カメラ1台で可視＋SWIR画像を取得できます。

【SWIR帯域下での検査のメリット】

■可視光下では同色に見える被写体が、SWIR帯域下では水分浸透率により異なる色に映り、素材や内容物の違いを判別可能。

■液体の種類により光を吸収したり透過するので、内容物の有無や量、異物の混在を判別可能。

■葉脈や果物の打痕が強調して見えるようになり、鮮度確認や品質検査に有効。

VCC-SXCXP1SW

　SXGA 可視＋SWIRカメラ

　・検出波長帯：400nm～1700nm

　・解像度：SXGA

　・I/F：CXP3 × 1lane

　・Cマウント

　・(H)65mm×(W)65mm×(D)65mm

最大2100万画素可視＋SWIRカメラ

・検出波長帯：400nm～1700nm

・画素ずらしソフトを用いて下記解像度で撮像可能

　(9回ずらしモデル)　5M / 12M

　(16回ずらしモデル)　5M / 21M

・I/F：CXP3 × 1lane

・Cマウント

・(H)65mm×(W)65mm×(D)95mm

※SWIRカメラは、輸出の許可が必要な貨物に該当します。

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